核辐射密度计射线强度调节装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种核辐射密度计射线强度调节装置,它包括核辐射密度计的射源(1)和接收探棒(2),射源(1)和接收探棒(2)之间放置有测量管(3),其特征在于:在射源(1)和测量管(3)之间设有钢板(4)。本实用新型在射源和测量管之间安装钢板,通过控制钢板插入的块数,调节密度计接收探棒接收到γ射线电磁强度,使之更符合接收探棒的要求,使密度检测更精确。本实用新型能够有效的把密度计接收探棒接收到的射线强度控制在要求的范围内,只采用一个射源,可选择各种型号规格的接收探棒,并且使检测准确可靠。具有结构简单,能调节射线强度,可节约成本,提高检测准确性的,减小密度计对人员身体机能的伤害等优点。

基本信息
专利标题 :
核辐射密度计射线强度调节装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720123090.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-06-26
授权号 :
CN201066387Y
授权日 :
2008-05-28
发明人 :
潘晓安田运雄沈宇龙周虎哉蔡兴琳张政军廖庭龙
申请人 :
中国铝业股份有限公司
申请人地址 :
100814北京市复兴路乙12号
代理机构 :
贵阳中新专利商标事务所
代理人 :
刘楠
优先权 :
CN200720123090.9
主分类号 :
G01T1/16
IPC分类号 :
G01T1/16  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
法律状态
2017-07-25 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101736767192
IPC(主分类) : G01T 1/16
专利号 : ZL2007201230909
申请日 : 20070626
授权公告日 : 20080528
终止日期 : 无
2008-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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