一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置
专利权的终止
摘要

一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置,属于纳米材料性能原位检测领域。该实用新型设计通过压电陶瓷拉伸单元、微悬臂梁力学检测系统以及电学测量系统,对单根纳米线以及其它的一维纳米材料在透射电镜中实现原位拉伸,并在拉伸过程中实现可以利用透射电镜的成像系统,原位的获得纳米尺度甚至原子尺度上的变形信息,而且还可以实现弹性,塑性和断裂的力学性能定量测量,同时也可以对一维纳米材料进行电学性能测量,实现在拉伸过程中的电荷输运性能的研究。本实用新型结构简单,便于操作,应用范围广,具有直观性和定量检测的特性,便于解释和发现纳米材料优异的力学/电学等综合性能。

基本信息
专利标题 :
一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720169809.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-07-20
授权号 :
CN201066335Y
授权日 :
2008-05-28
发明人 :
韩晓东郑坤张泽
申请人 :
北京工业大学
申请人地址 :
100022北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 :
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 :
刘萍
优先权 :
CN200720169809.2
主分类号 :
G01N13/10
IPC分类号 :
G01N13/10  G01N3/00  G01N27/00  
法律状态
2013-09-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101517122407
IPC(主分类) : G01N 13/10
专利号 : ZL2007201698092
申请日 : 20070720
授权公告日 : 20080528
终止日期 : 20120720
2008-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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