透射电镜中纳米线原位压缩下力电性能测试装置
专利权的终止
摘要

一种透射电镜中纳米线原位压缩下力电性能测试装置属于纳米材料性能原位检测领域。它是在原透镜样品杆的基础上改造而成,包括:放于透镜样品杆密封管内的压电陶瓷片,驱动电源,驱动导线,信号导线,加载导线,承载底座,连动杆及集成块;所述集成块又包括:长方体外壳,第一绝缘垫片,第二绝缘垫片,镀金属硅片,悬臂梁,滑轨,金属滑块,紧固螺钉,微调旋钮。通过驱动压电陶瓷片,使其在轴向上发生微位移来带动金属滑块靠近悬臂梁,从而实现两端搭载在金属滑块和悬臂梁上纳米线的单轴压缩,进而可以测试应变状态下纳米线的力电性能。本实用新型结构简单,便于操作,具有直观性和定量检测的特性,便于解释和发现纳米材料优异的力学/电学等综合性能。

基本信息
专利标题 :
透射电镜中纳米线原位压缩下力电性能测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720169808.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-07-20
授权号 :
CN201083669Y
授权日 :
2008-07-09
发明人 :
韩晓东郑坤张泽
申请人 :
北京工业大学
申请人地址 :
100022北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 :
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 :
刘萍
优先权 :
CN200720169808.8
主分类号 :
G01N13/10
IPC分类号 :
G01N13/10  G01N3/00  G01N27/00  
法律状态
2013-09-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101517157486
IPC(主分类) : G01N 13/10
专利号 : ZL2007201698088
申请日 : 20070720
授权公告日 : 20080709
终止日期 : 20120720
2008-07-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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