一种摄像头污点测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型是关于一种摄像头污点测试装置,其包括机座及设置在所述机座上的用以安装待测试产品的至少一个夹具,所述测试装置还包括散光体,所述散光体是待测试产品的摄像头的拍照目标物。上述摄像头污点测试装置利用散光体作为待测试产品的摄像头的拍照目标物,既可以省去传统污点测试装置中使用的污点测试图纸和塑胶板,同时也缩短了摄像头与拍照目标物之间的距离,有利于节省产线空间。此外,该散光体相对于污点测试图纸更不易脏,不需要经常更换,这样既节省了设备维护时间又有利于提高生产效率。

基本信息
专利标题 :
一种摄像头污点测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720170724.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-11-12
授权号 :
CN201110833Y
授权日 :
2008-09-03
发明人 :
刘玉兰杨小龙魏亮
申请人 :
比亚迪股份有限公司
申请人地址 :
518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园
代理机构 :
深圳中一专利商标事务所
代理人 :
陈健
优先权 :
CN200720170724.6
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2017-01-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101695920282
IPC(主分类) : G01N 21/88
专利号 : ZL2007201707246
申请日 : 20071112
授权公告日 : 20080903
终止日期 : 20151112
2008-09-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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