一种发光二极管的温度特性测量系统，用于测量发光二极管的温度特性，其包括环境控制装置、流体介质、温度控制装置及光学测量装置。所述发光二极管设置于环境控制装置的容置空间中，所述流体介质填充于环境控制装置的容置空间中，所述温度控制装置用于控制容置空间内的温度，光学测量装置用于测量发光二极管的光学特性。本实用新型可用以测量环境温度对于发光二极管的光学特性的影响，并可确保在环境温度变化时的测量准确度。