温度测量系统和温度测量主系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种温度测量系统和温度测量主系统,该系统包括处理器,以及分别与处理器连接的图像采集设备、热成像设备和温度采集设备;图像采集设备与热成像设备的图像视野范围相匹配;该温度采集设备安装在热成像设备的图像视野范围内;图像采集设备用于获取环境图像;热成像设备用于获取环境图像对应的热成像图像;温度采集设备用于获取温度采集设备所处的环境温度;处理器用于从环境图像中检测目标对象,从热成像图像中检测目标对象的热成像温度;还用于获取环境温度,输出目标对象的实际温度。该方式采用温度采集设备替代现有的黑体,避免了黑体存在的缺陷,因此该方式在保证测温精度的同时,提高了鲁棒性、降低了部署难度。
基本信息
专利标题 :
温度测量系统和温度测量主系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020255712.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-04
授权号 :
CN211262493U
授权日 :
2020-08-14
发明人 :
周舒畅陈雪松袁沅祥胡晨
申请人 :
北京迈格威科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区科学院南路2号融科资讯中心A座316-318
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
何少岩
优先权 :
CN202020255712.9
主分类号 :
G01J5/00
IPC分类号 :
G01J5/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2020-08-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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