一种信号测试治具
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种信号测试治具,是用以自待测电子装置表面的测试点引出测试信号,以供信号测试装置进行相关测试,利用夹具对该待测电子装置进行夹紧及松弛,而该夹具具有用以固定探针的固定孔,利用探针的针脚接触该待测电子装置表面测试点,以将测试信号引出至外露于该固定孔的位置,以供该信号测试装置进行电性连接,故不需要进行焊接便能够便利地于待测电子装置中采集需要测试的测试信号,从而解决现有技术的缺陷。

基本信息
专利标题 :
一种信号测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720194638.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-11-19
授权号 :
CN201126455Y
授权日 :
2008-10-01
发明人 :
季平陈志丰
申请人 :
英业达股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北市
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
戈泊
优先权 :
CN200720194638.9
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/02  G01R1/067  G06F11/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2017-01-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101695976577
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2007201946389
申请日 : 20071119
授权公告日 : 20081001
终止日期 : 20151119
2008-10-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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