微波元件测试装置及微波元件测试调整机构

专利权的终止

摘要

本实用新型提出一种微波元件测试装置及微波元件测试调整机构，该机构包含一座体、至少一个滑导件、至少一个连杆和至少一个弹压件。座体具有至少一个容置部与至少一个开孔。连杆包含一第一端部与一第二端部，其中第一端部穿置于滑导件中，使该连杆得以保持相同方向的平滑运动。弹压件位于连杆的第二端部侧，并压抵于该连杆。弹压件与连杆的第二端部容置于座体的容置部，而滑导件嵌置于座体的开孔上。本实用新型提出的微波元件测试装置及微波元件测试调整机构，可使测试装置作上下与偏移调整以容纳微波元件的制造公差，并在测试后仍保持在一定的中心位置，而且不会因为长时间的使用而发生偏移。

基本信息

专利标题：

微波元件测试装置及微波元件测试调整机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820005171.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-03-07

授权号：

CN201163173Y

授权日：

2008-12-10

发明人：

古世良梁竣杰

申请人：

台扬科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新竹市

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司

代理人：

潘培坤

优先权：

CN200820005171.3

主分类号：

G01B5/02

IPC分类号：

G01B5/02