基于Z扫描的泵浦探测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种基于Z扫描的泵浦探测装置,包括激光光源、分束器,所述分束器把入射激光束分为两束,分别进入泵浦光路和探测光路,所述泵浦光路包括时间延迟部件和凸透镜;所述探测光路包括凸透镜、出射分束器和两个探测器,待测样品位于凸透镜的后焦面上,其特征在于:在所述探测光路的凸透镜之前,设置有相位物体。本实用新型的装置结构简单,测量非常方便可以广泛地应用于非线性光学测量、非线性光子学材料、非线性光学信息处理和光子学器件等研究领域,尤其是非线性光功能材料的测试和改性等关键环节。

基本信息
专利标题 :
基于Z扫描的泵浦探测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820041810.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-07-17
授权号 :
CN201222032Y
授权日 :
2009-04-15
发明人 :
杨俊义李云波宋瑛林顾济华王玉晓
申请人 :
苏州大学
申请人地址 :
215123江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路199号
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
陶海锋
优先权 :
CN200820041810.1
主分类号 :
G01N21/17
IPC分类号 :
G01N21/17  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2012-09-12 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101325711163
IPC(主分类) : G01N 21/17
专利号 : ZL2008200418101
申请日 : 20080717
授权公告日 : 20090415
终止日期 : 20110717
2009-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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