用于太阳电池片氮化硅膜致密性测量的载片
专利权的终止
摘要
本实用新型提供了一种用于太阳电池片氮化硅膜致密性测量的载片,该载片为方形薄片,中间设有一个用于放置电池片的方形凹槽。本实用新型的载片用于太阳电池片氮化硅膜致密性测量时,是将太阳电池片固定放置在载片的凹槽内,然后用可伸缩的钩子插入载片的两个挂钩孔内勾住载片,再一起放入一个盛有HF溶液的方形容器内进行腐蚀,可以清晰地观察到膜色的变化,能够很直观的判断太阳电池片氮化硅膜致密性的好坏。
基本信息
专利标题 :
用于太阳电池片氮化硅膜致密性测量的载片
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820059214.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-05-30
授权号 :
CN201222056Y
授权日 :
2009-04-15
发明人 :
许瑞峰
申请人 :
上海太阳能科技有限公司
申请人地址 :
201108上海市闵行区莘庄工业区申南路555号
代理机构 :
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 :
杨元焱
优先权 :
CN200820059214.6
主分类号 :
G01N31/00
IPC分类号 :
G01N31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N31/00
利用本组规定的化学方法对非生物材料的测试或分析;此类方法专用的装置
法律状态
2012-08-01 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101305510551
IPC(主分类) : G01N 31/00
专利号 : ZL2008200592146
申请日 : 20080530
授权公告日 : 20090415
终止日期 : 20110530
号牌文件序号 : 101305510551
IPC(主分类) : G01N 31/00
专利号 : ZL2008200592146
申请日 : 20080530
授权公告日 : 20090415
终止日期 : 20110530
2009-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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