马赫-曾德尔型剪切波面测量系统
专利权的终止
摘要

一种马赫—曾德尔型剪切波面测量系统,该系统包括:由入射平板、出射平板、固定底座、第一反射平板、第二反射平板、第三反射平板、第四反射平板、第一导轨、第二导轨、成像透镜、小孔和CCD成像仪构成的干涉系统;提供精度保证的调整设备包括自准直平行光管、第一反射镜、激光准直光源、基准透反射镜、第二反射镜、光阑、第一五棱镜和第二五棱镜;控制处理系统包括压电控制器和计算机处理系统。本实用新型是一种适用于测量大口径,衍射极限下的波面,特别是适用于短相干长度的光源波面,可以进行移相处理,配有实时调整和标定的完整系统。

基本信息
专利标题 :
马赫-曾德尔型剪切波面测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820059890.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-18
授权号 :
CN201251486Y
授权日 :
2009-06-03
发明人 :
栾竹刘立人王利娟
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200820059890.3
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2011-08-24 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101100108245
IPC(主分类) : G01J 9/02
专利号 : ZL2008200598903
申请日 : 20080618
授权公告日 : 20090603
终止日期 : 20100618
2009-06-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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