偏振移相双剪切干涉波面测量仪
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要
一种偏振移相双剪切干涉波面测量仪，该测量仪的构成是沿光束的前进方向依次包括：第一雅敏平行平板、左下楔形光学平板、左上楔形光学平板、右下楔形光学平板、右上楔形光学平板、第二雅敏平行平板、偏振移相器、成像镜组和图像传感器，该图像传感器的输出端接计算机。本实用新型不仅保持了双剪切干涉波面测量仪的所有特点，而且具有灵敏度高、能精确测量任意对称波面并给出完整波面轮廓等优点。
基本信息
专利标题 ：
偏振移相双剪切干涉波面测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720075604.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-10-19
授权号 ：
CN201083544Y
授权日 ：
2008-07-09
发明人 ：
王利娟刘立人栾竹孙建锋周煜
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
201800上海市800－211邮政信箱
代理机构 ：
上海新天专利代理有限公司
代理人 ：
张泽纯
优先权 ：
CN200720075604.8
主分类号 ：
G01J9/02
IPC分类号 ：
G01J9/02 G01B9/023 G01B11/24 G02B27/10 G02B5/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2009-12-30 ：
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 20071019
2008-07-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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