密度测量仪

专利权的终止

摘要

一种密度测量仪，下方有一个水槽，水槽向上连接一个静支架，静支架的顶端置放一个电子天平；电子天平上的干重称重盘向下连接动支架，动支架的两个下端各连接连接吊丝，四个吊丝下端分别连接湿重称重盘的四角端；湿重称重盘悬空装在水槽内，水槽有液体，湿重称重盘整体浸没在水槽的液体。此密度测量仪结构简单，测试方便、快速，不损伤样品，检测结果准确，适用于贵重金属和首饰的检测。

基本信息

专利标题：

密度测量仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820074915.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-06-02

授权号：

CN201203562Y

授权日：

2009-03-04

发明人：

张磊

申请人：

天津市博智伟业科技有限公司

申请人地址：

300384天津市华苑产业区鑫茂财智领地4－B－1001

代理机构：

天津盛理知识产权代理有限公司

代理人：

王融生

优先权：

CN200820074915.7

主分类号：

G01N9/08

IPC分类号：

G01N9/08