X线胶片显影密度测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是X线胶片显影密度测量仪。本发明由电源，红外光源，红外光电探头和数字处理显示器组成，红外光电探头内设置红外光电传感器，前置放大器及求和电路，在数字处理显示器内设置A/D转换器，单片微机和数字显示器。本发明能在暗房定量检测X线胶片显影密度，使操作人员能根据仪器显示的数据控制显影程度，有利于消除人为因素的影响，提高X线照片的质量和优片率。
基本信息
专利标题 ：
X线胶片显影密度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1075558A
申请号 ：
CN92108631.8
公开（公告）日 ：
1993-08-25
申请日 ：
1992-11-17
授权号 ：
CN1027396C
授权日 ：
1995-01-11
发明人 ：
王春杰
申请人 ：
中国人民解放军杭州疗养院医务部
申请人地址 ：
310007浙江省杭州市西山路13号
代理机构 ：
浙江省专利事务所
代理人 ：
何晓
优先权 ：
CN92108631.8
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59 G03D17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
1997-01-01 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-01-11 ：
授权
1993-08-25 ：
公开
1993-06-02 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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