谷物颗粒硬度测定仪
专利权的终止
摘要

本实用新型为一种谷物颗粒硬度测定仪,所述硬度测定仪包括一基座,所述基座上设有一第一轧辊;一支撑座设置在所述基座上,所述支撑座上与第一轧辊相对位置设置一第二轧辊,两轧辊相向转动,且两轧辊之间具有一间隙;所述基座与支撑座之间至少设有一力传感器。本实用新型的谷物颗粒硬度测定仪,由于两轧辊是连续相向转动的,在两轧辊之间可以连续进行多个单颗谷物颗粒的硬度测定,即通过喂料装置可依次将多个单颗谷物颗粒送入第一轧辊与第二轧辊之间的间隙,使谷物群体颗粒的检测过程实现连续进行,可进行谷物颗粒大批量快速测定,克服了现有颗粒硬度计在谷物群体颗粒硬度判定方面的不足。

基本信息
专利标题 :
谷物颗粒硬度测定仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820078582.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-01-17
授权号 :
CN201152844Y
授权日 :
2008-11-19
发明人 :
郝伟
申请人 :
北京东孚久恒仪器技术有限公司
申请人地址 :
100037北京市西城区百万庄大街11号粮科大厦
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
赵燕力
优先权 :
CN200820078582.5
主分类号 :
G01N3/42
IPC分类号 :
G01N3/42  G01N15/10  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/40
测试硬度或回弹硬度
G01N3/42
用压头在稳定载荷下压印,例如球形压头,棱锥形压头
法律状态
2018-02-09 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 3/42
申请日 : 20080117
授权公告日 : 20081119
2008-11-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN201152844Y.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332