放射性物质检测和X光辐射成像的集成系统
避免重复授权放弃专利权
摘要

本实用新型涉及放射性物质探测和X光辐射检测领域,提供了一种用于在同一地点同时进行放射性物质探测和X光辐射检测的系统,解决了现有技术中两种检测必须分开进行的问题。本实用新型的集成系统包括:X光检测设备,用于对被检物体进行X光辐射成像检查;放射性物质监测设备,与所述X光检测设备相邻放置,用于检测所述被检物体发出的放射性射线;所述放射性物质监测设备在其检测能区内设置用于区分所检测到的由所述X光检测设备发出的X光射线所处的能量区和由所述被检物体发出的放射性射线所处的能量区的检测低限,并检测高于所述检测低限的能区内的能量。本实用新型实现了两种检测设备的紧凑集成,大大节约了空间、时间资源。

基本信息
专利标题 :
放射性物质检测和X光辐射成像的集成系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820079460.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-03-18
授权号 :
CN201196636Y
授权日 :
2009-02-18
发明人 :
阮明蒲中奇赵崑吕君王小兵辛喆苗高峰贺宇
申请人 :
同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
李亚非
优先权 :
CN200820079460.8
主分类号 :
G01N33/00
IPC分类号 :
G01N33/00  G01N23/00  G01T1/38  G01T1/203  G01T1/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2012-08-08 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101428744993
IPC(主分类) : G01N 33/00
专利号 : ZL2008200794608
申请日 : 20080318
授权公告日 : 20090218
放弃生效日 : 20080318
2009-02-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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