食品综合品质无损检测装置
避免重复授权放弃专利权
摘要

本实用新型公开了一种食品综合品质无损检测装置。将检测台安装在支架上,光纤探头固定在检测台下部,光纤探头与光谱采集仪连接;光照箱固定在检测台上,检测台两侧均布光源和遮光板,摄像头固定在光照箱上方;摄像头和光谱采集仪分别与PC机连接。通过机器视觉系统得到能反映检测对象的图像信息,通过光谱检测系统获得反映样品理化指标的光谱信息,对获得的信息分别在数据层进行预处理,在特征层或决策层进行信息融合,结合建立的食品分类评级专家系统,对检测对象品质进行综合评价。综合两种信息,对食品的外观和内在品质进行测定,能够对其综合品质进行快速、简便、无损、客观的检测,用于食品原料分选、食品加工过程监测、食品等级评定等。

基本信息
专利标题 :
食品综合品质无损检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820083616.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-02-26
授权号 :
CN201156043Y
授权日 :
2008-11-26
发明人 :
成芳廖宜涛应义斌
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
林怀禹
优先权 :
CN200820083616.X
主分类号 :
G01N33/02
IPC分类号 :
G01N33/02  G01N21/84  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
G01N33/02
食物
法律状态
2012-08-29 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101443547578
IPC(主分类) : G01N 33/02
专利号 : ZL200820083616X
申请日 : 20080226
授权公告日 : 20081126
放弃生效日 : 20080226
2008-11-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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