一种光学测高装置
专利权的终止
摘要

一种光学测高装置,它包括:定位在转动轴(4)上的光线发射器(2)与指针(1),由指针(1)与角刻度盘(3)构成的并且定位在支架(6)顶部平面上的量角器,还有定位在支架(6)顶部平面上的水准仪(5),其特征在于:指针(1)与光线发射器(2)的长度方向是平行的,并且,指针(1)与光线发射器(2)二者处于同轴同步的转动状态。测高时,测量者无需攀高即可在地面上完成全部的高度测量工作。

基本信息
专利标题 :
一种光学测高装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820086897.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-05-26
授权号 :
CN201191183Y
授权日 :
2009-02-04
发明人 :
龚双龙
申请人 :
龚双龙
申请人地址 :
310018浙江省杭州市下沙高教园区中国计量学院07机电1班
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200820086897.4
主分类号 :
G01C3/20
IPC分类号 :
G01C3/20  G01C3/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C3/00
视距测量;光学测距仪
G01C3/10
利用视差三角形的,该视差三角形系由可变角度和设在观测站,例如仪器上的固定长度基线构成
G01C3/20
适用于目标高度测量的
法律状态
2010-09-01 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005248182
IPC(主分类) : G01C 3/20
专利号 : ZL2008200868974
申请日 : 20080526
授权公告日 : 20090204
2009-02-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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