测试插件
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种测试IC芯片及电子回路电气连接用的测试插件。连接插件由伸缩弹簧与芯柱组成,本连接插件与上基板第一连接下电极及下基板的第二连接上电极形成电气回路,具有电阻较小、电感值小、结构简单,便于大批量生产,成本比较低的特点。利用伸缩弹簧的较高弹性系数,可保持稳定的弹性,利用芯柱设于弹簧内,不让弹簧过度弯曲,呈垂直状态,使上、下基板保持恒定压力,对被接触电极部损伤小。

基本信息
专利标题 :
测试插件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820092293.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-02-20
授权号 :
CN201156050Y
授权日 :
2008-11-26
发明人 :
赖启钥白南
申请人 :
赖启钥
申请人地址 :
315300浙江省慈溪市新浦镇六塘南村
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200820092293.0
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02  G01R31/28  G01R31/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2012-04-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101230925839
IPC(主分类) : G01R 1/02
专利号 : ZL2008200922930
申请日 : 20080220
授权公告日 : 20081126
终止日期 : 20110220
2008-11-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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