老化箱

专利权的终止

摘要

本实用新型揭露一种老化箱，所述老化箱包括电源部分、温控部分、热循环部分、电源输出部分以及负载接口部分，电源部分由总空气开关通过转接排并联连接空气开关1-6、温控部分及热循环部分，空气开关1-6输出端作为电源输出部分并与负载接口部分连接。本实用新型通过采用上述结构可以优化老化结构，提高老化效果。

基本信息

专利标题：

老化箱

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820093065.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-04-01

授权号：

CN201273926Y

授权日：

2009-07-15

发明人：

高云峰钟于萍

申请人：

深圳市大族激光科技股份有限公司

申请人地址：

518057广东省深圳市南山区高新科技园松坪山工厂区5号路8号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200820093065.5

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/00

电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）

法律状态

2016-05-18 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101661359613
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008200930655
申请日 : 20080401
授权公告日 : 20090715
终止日期 : 20150401

2009-07-15 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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