不对称式T型薄膜电容
专利权的终止
摘要
一种不对称式T型薄膜电容,使用于薄膜电容中,包括第一层金属化膜和第二层金属化膜,其特征在于:所述第一层金属化膜是在塑胶膜表面蒸着金属电极,且设有并联连续不对称的区块;所述第二层金属化膜的上端设置成型为空白区,且其余部分蒸着为金属电极;所述第二层金属化膜和所述第一层金属化膜重叠卷折而成一电容器,且在所述电容器侧喷涂金属融层容置入所述电容器。
基本信息
专利标题 :
不对称式T型薄膜电容
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820105088.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-04-22
授权号 :
CN201229853Y
授权日 :
2009-04-29
发明人 :
王培钟
申请人 :
台金科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台中市西屯区中部科学园工业园区科园1路3号
代理机构 :
上海天协和诚知识产权代理事务所
代理人 :
张恒康
优先权 :
CN200820105088.3
主分类号 :
H01G4/33
IPC分类号 :
H01G4/33 H01G4/005 H01G2/16
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01G
电容器;电解型的电容器、整流器、检波器、开关器件、光敏器件或热敏器件
H01G4/00
固定电容器;及其制造方法
H01G4/33
薄膜或厚膜电容器
法律状态
2012-06-27 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101272911612
IPC(主分类) : H01G 4/33
专利号 : ZL2008201050883
申请日 : 20080422
授权公告日 : 20090429
终止日期 : 20110422
号牌文件序号 : 101272911612
IPC(主分类) : H01G 4/33
专利号 : ZL2008201050883
申请日 : 20080422
授权公告日 : 20090429
终止日期 : 20110422
2009-04-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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