一种用于痕量检测仪器的样品解析器
专利权的终止
摘要

本实用新型公开一种样品解析器,包括加热器和进样载体,其中,所述加热器和进样载体制成一体,从而使得进样载体和加热器之间的位置关系固定不变。与现有技术相比,由于本实用新型的加热器和进样载体被制成一体,从而使得进样载体和加热器之间的位置关系固定不变,提高了样品加热的一致性。另外,由于本实用新型的进样载体和加热器采用低热容材料制成,因此加热时温度变化速度快,耗费能源少,能够实现快速变化的温度控制。

基本信息
专利标题 :
一种用于痕量检测仪器的样品解析器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820109634.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-04
授权号 :
CN201233346Y
授权日 :
2009-05-06
发明人 :
贺文张阳天彭华
申请人 :
同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
王新华
优先权 :
CN200820109634.0
主分类号 :
G01N1/44
IPC分类号 :
G01N1/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/44
包括辐照的样品处理,例如,加热
法律状态
2018-08-28 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 1/44
申请日 : 20080804
授权公告日 : 20090506
2009-05-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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