记忆卡测试装置

专利权的终止

摘要

本实用新型是一种记忆卡测试装置，是供数字产品测试记忆卡读取功能之用；该记忆卡测试装置包含有一本体、一测试端、至少二记忆卡插座及至少一控制开关，该控制开关切换记忆卡插座与该测试端之间的连接；因此，本实用新型使用者可以大幅减少在数字产品上拔插记忆卡的动作及次数，不仅可以提升效率，而且能降低组件损坏几率、加强测试人员的操作准确性。

基本信息

专利标题：

记忆卡测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820114780.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-05-15

授权号：

CN201207295Y

授权日：

2009-03-11

发明人：

庞国梁徐家祥

申请人：

昆山致嘉电子科技有限公司

申请人地址：

215300江苏省昆山市巴城镇迎宾西路2001号

代理机构：

北京元中知识产权代理有限责任公司

代理人：

杨建君

优先权：

CN200820114780.2

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56 H01R12/16

IPC结构图谱

G部——物理

G11

信息存储

G11C

静态存储器

G11C29/48

专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径

G11C29/56

用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口

法律状态

2011-07-20 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101089141843
IPC(主分类) : G11C 29/56
专利号 : ZL2008201147802
申请日 : 20080515
授权公告日 : 20090311
终止日期 : 20100515

2009-03-11 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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