多适应性测试座
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种用于测试各种非标准、直插式封装以及各种管脚直径尺寸元器件的多适应性测试座。测试座由导板、基座及簧片组成,基座中间布置与被测件管脚分布及尺寸相适应的安装孔,安装孔中置入簧片,导板置于基座上,导板中间设置有与基座上孔相对应的导入孔。安装孔的顶部为长圆形台阶孔并与基座的边缘呈45°,底部为圆形通孔。

基本信息
专利标题 :
多适应性测试座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820118486.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-12
授权号 :
CN201203628Y
授权日 :
2009-03-04
发明人 :
蒋华锋
申请人 :
中国航空工业第一集团公司第六一三研究所
申请人地址 :
471009河南省洛阳市凯旋西路25号
代理机构 :
中国航空专利中心
代理人 :
李建英
优先权 :
CN200820118486.9
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2018-07-06 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 1/04
申请日 : 20080612
授权公告日 : 20090304
2009-03-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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