测试系统及适应性测试制法产生方法
授权
摘要
本发明提供一种测试系统，包括：一测试设备，用以对一待测装置进行测试；以及一测试控制装置，用以执行一测试制法以控制该测试设备对该待测装置进行在该测试制法中的多个第一测试项目，其中该测试控制装置是由该测试设备取得各第一测试项目的测试结果，并利用一测试制法类神经网络分析各第一测试项目的该测试结果，以产生下一个测试循环的该测试制法。本发明提供的测试系统及适应性测试制法产生方法能够节省大量的人力资源与中测台测试成本，并且即时解决制造工艺变异所造成的品质与成品率损失的问题。
基本信息
专利标题 ：
测试系统及适应性测试制法产生方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110749813A
申请号 ：
CN201810818211.4
公开（公告）日 ：
2020-02-04
申请日 ：
2018-07-24
授权号 ：
CN110749813B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
赖志强
申请人 ：
华邦电子股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台中市
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
王天尧
优先权 ：
CN201810818211.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2020-02-28 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20180724
申请日 : 20180724
2020-02-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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