一种基于典型电路的电磁环境适应性边界测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于典型电路的电磁环境适应性边界测试系统,包括:干扰信号产生模块,包括第一射频源和第二射频源,所述第一射频源和第二射频源用于产生不同类型的干扰信号输出给信号组合装置;信号组合装置,用于将第一射频源和第二射频源产生的信号进行组合,并进行功率放大后传输给电流注入模块;电流注入模块,用于将信号组合装置输入的信号通过导线输出到典型电路系统敏感性检测模拟装置进行干扰模拟,从而获取典型电路系统的电磁环境适应性边界。本发明能够得到典型电路系统的电磁环境适应性边界,便于分析拥有典型电路系统的复杂系统电磁环境适应性。
基本信息
专利标题 :
一种基于典型电路的电磁环境适应性边界测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487661A
申请号 :
CN202210021452.2
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李冰苏东林黄鹏周宗飞李尧尧
申请人 :
北京航空航天大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路37号
代理机构 :
成都巾帼知识产权代理有限公司
代理人 :
邢伟
优先权 :
CN202210021452.2
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01S19/42 G01S19/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20220110
申请日 : 20220110
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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