一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统，属于测试技术领域，包括前端测试装置和后端测试装置，前端测试装置包括MCU和电池，MCU与待测试设备连接，电池为MCU、待测试设备供电；后端测试装置包括顺次连接的控制模块和存储模块，控制模块与MCU经第一光纤进行通信连接；待测试设备的供电电路上设有第一开关，第一开关与MCU控制连接。本实用新型采用光纤作为传输媒介，在实现控制模块、MCU通信的同时不引入任何外部干扰，保证了EUT测试的可靠性；通过MCU控制第一开关的工作状态，进而实现对EUT的可控供电，大大延长了电池的使用寿命，保证EUT测试的供电持续性。
基本信息
专利标题 ：
一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202221021525.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-04-29
授权号 ：
CN216622559U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
王波张洪妹陈家俊
申请人 ：
成都金迈微科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市金牛高新技术产业园区信息园东路99号大成仓智汇园A-102A号
代理机构 ：
成都华风专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
吴桂芝
优先权 ：
CN202221021525.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/3835 H04Q9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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