电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质
实质审查的生效
摘要

在本发明的电磁环境分析系统中,图像制作部在与各测定值的测定位置相对应的位置制作显示测定值相关的信息的图像。设定多个区划。区划判定部基于上述位置信息,判定在上述图像中形成与测定值相关的信息的显示范围的多个区划中的与各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于与区划对应的测定值确定区划的显示相关的信息。显示信息确定部当在相互不同的时刻测定到的两个以上的测定值与一个区划对应时,根据两个以上的测定值运算代表值,并基于代表值确定在区划中显示的信息。

基本信息
专利标题 :
电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114545096A
申请号 :
CN202111357171.6
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2021-11-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
佐藤俊弥林达也
申请人 :
TDK株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 :
杨琦
优先权 :
CN202111357171.6
主分类号 :
G01R29/08
IPC分类号 :
G01R29/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/08
申请日 : 20211116
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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