低频电磁检测分析装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种低频电磁检测分析装置，属于电磁强度分析仪的技术领域，其包括主体，主体一面固定连接有显示屏，主体远离显示屏一面连接有具有弹性的绑紧带，绑紧带沿主体的长度方向设置，绑紧带两端分别连接有上固定块和下固定块，上固定块和下固定块分别可拆卸连接于主体两端；主体远离显示屏一面可拆卸连接有连接板，连接板靠近主体一侧位置处固定连接有多个具有弹性的指套，本实用新型具有能够将低频电磁检测分析装置与人手进行固定，降低了低频电磁检测分析装置摔落的可能的效果。

基本信息

专利标题：

低频电磁检测分析装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921600855.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-24

授权号：

CN211206632U

授权日：

2020-08-07

发明人：

邓涛申鑫

申请人：

重庆市辐射技术服务中心有限公司

申请人地址：

重庆市渝中区大溪沟街73号21-6

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201921600855.2

主分类号：

G01R29/08

IPC分类号：

G01R29/08