电磁环境分析系统、电磁环境分析方法及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明涉及电磁环境分析系统、电磁环境分析方法及存储介质。电磁环境分析系统中,第一标记在实际空间中配置于传感器上。第二标记具有能够特定相对于实际空间中摄像图像被摄像的位置的相对位置的信息并且配置于预先确定的位置。显示范围确定部基于第二标记的检测结果,确定图像中与测定值相关的信息被显示的显示范围。位置运算部基于第一标记的检测结果和第二标记的检测结果,运算第一标记和第二标记的相对位置。区划判定部基于上述相对位置判定区分了显示范围的多个区划中与测定各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于测定值确定与区划的显示相关的信息。
基本信息
专利标题 :
电磁环境分析系统、电磁环境分析方法及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114545108A
申请号 :
CN202111360893.7
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2021-11-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
佐藤俊弥林达也
申请人 :
TDK株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 :
杨琦
优先权 :
CN202111360893.7
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211117
申请日 : 20211117
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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