电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质
实质审查的生效
摘要
在本发明的电磁环境分析系统中，区划设定部设定在图像中形成与测定值相关的信息的显示范围的多个区划。区划判定部基于位置信息判定多个区划中的与各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于与区划对应的测定值确定与区划的显示相关的信息。再设定判定部判定是否再设定多个区划。在再设定判定部判定为再设定多个区划的情况下，区划设定部将形成显示范围的多个区划从多个第一区划再设定为各自的大小与第一区划的大小不同的多个第二区划。显示信息确定部确定与第二区划的显示相关的信息。
基本信息
专利标题 ：
电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518491A
申请号 ：
CN202111357172.0
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2021-11-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
佐藤俊弥林达也
申请人 ：
TDK株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨琦
优先权 ：
CN202111357172.0
主分类号 ：
G01R29/08
IPC分类号 ：
G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/08
申请日 : 20211116
申请日 : 20211116
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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