表面粗糙度检测装置

专利权的终止

摘要

本实用新型提供一种表面粗糙度的检测装置，包括光源单元和光电探测器，光源单元发出光照射被测表面，光电探测器探测由被测表面反射的光得到检测信号，被测表面与检测装置的光轴和光电探测器位于同一平面内，被测表面以与所述光轴成第一角度放置，光电探测器以与所述光轴成第二角度放置，以防光从光电探测器反射回被测表面。本实用新型的表面粗糙度检测装置，既避免了反射光对测量结果的影响，又减少了吸收装置而降低成本。

基本信息

专利标题：

表面粗糙度检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820122779.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-09-28

授权号：

CN201322610Y

授权日：

2009-10-07

发明人：

李粉兰段海峰郝建国许祖茂李俊国

申请人：

北京时代之峰科技有限公司

申请人地址：

100085北京市海淀区上地西路28号1幢二层

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司

代理人：

田野

优先权：

CN200820122779.4

主分类号：

G01B11/30

IPC分类号：

G01B11/30