垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪

授权

摘要

本实用新型公开了一种垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪，垂直式表面粗糙度测头包括固定架、移动架、位移测量模块、针杆、触针和导向装置，移动架竖向滑动连接于固定架上，移动架上设置针杆，移动架的底板上设有导向装置，导向装置能够用于对针杆进行竖向导向以防止针杆摆动，针杆的底端固定设置有触针，针杆穿过导向装置，触针贯穿移动架的底板，位移测量模块用于测量针杆竖直方向上的移动距离；表面粗糙度仪包括架体、移动装置和上述的垂直式表面粗糙度测头。本实用新型中，触针与针杆在导向装置的作用下，测量过程中始终与工件表面垂直，操作简便、测量精准程度高。

基本信息

专利标题：

垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020564296.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-16

授权号：

CN212158499U

授权日：

2020-12-15

发明人：

张树施玉书皮磊史舟淼高思田李伟李琪李适黄鹭

申请人：

中国计量科学研究院

申请人地址：

北京市朝阳区北三环东路18号

代理机构：

北京高沃律师事务所

代理人：

张德才

优先权：

CN202020564296.0

主分类号：

G01B11/30

IPC分类号：

G01B11/30 G01B5/14 G01L1/26