激光扫描测粗糙度的方法及测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明提供了一种用激光扫描和二路数据采集A/D转换和定标曲线计算机拟合的反射、散射比测量粗糙度的方法和实现该方法的粗糙度测量仪。该测量仪由激光器、光电探测器、扫描器、单板机等组成，其特征在于激光束入射到被测工件表面的入射角γ范围50-85度。光电探测器离反射点的距离d为10-300mm，扫描器由12-24面旋转多面镜、或扭动反射镜或声光偏转元件构成。其优点是结构简单、操作方便、测量速度快，只33ms就能测出几百个点的平均粗糙度。
基本信息
专利标题 ：
激光扫描测粗糙度的方法及测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1040265A
申请号 ：
CN88104832.1
公开（公告）日 ：
1990-03-07
申请日 ：
1988-08-10
授权号 ：
CN1014091B
授权日 ：
1991-09-25
发明人 ：
龚育良
申请人 ：
北京科技大学
申请人地址 ：
北京市学院路30号
代理机构 ：
北京科技大学专利代理事务所
代理人 ：
刘月娥
优先权 ：
CN88104832.1
主分类号 ：
G01B11/30
IPC分类号 ：
G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
1995-09-27 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-06-03 ：
授权
1991-09-25 ：
审定
1990-08-29 ：
实质审查请求
1990-03-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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