测头及测针组件
授权
摘要

本实用新型提供了一种测头及测针组件,属于测量技术领域。测头包括第一定位件、第二定位件和第三定位件,第一定位件和第三定位件分别固定在测头的上层和下层,第三定位件的中心设有内孔,第二定位件穿设于内孔中;第一定位件的下表面设有2N个凸出件,第二定位件的上表面设有N个凸出件,第三定位件的上表面设有2N个凸出件;其中,N≥3,第三定位件与第二定位件上的凸出件之间通过第一定位件的凸出件连接。本实用新型提出的测头及测针组件,测头在6个维度移动均可以触发信号,测头在竖直方向上可以向里也可以向外。凸出件两两之间点接触,实现全闭环通路,极小的偏移量都会使得信号断开,从而触发信号。

基本信息
专利标题 :
测头及测针组件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020526626.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-08
授权号 :
CN211783362U
授权日 :
2020-10-27
发明人 :
孟庆周
申请人 :
深圳市塔雷斯测量设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区横岗街道六约社区塘坑路9号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王闯
优先权 :
CN202020526626.7
主分类号 :
G01B21/00
IPC分类号 :
G01B21/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2020-10-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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