量测组件
授权
摘要
一种量测组件可用于量测高电子迁移率晶体管的特性，包括探针及探棒，探针具有探针本体及设置在探针本体一端的尖端，探针本体具有第一导电金属及披覆于第一导电金属的绝缘层，尖端为接触金属。探棒具有第二导电金属及披覆于第二导电金属的第三金属层；探针的尖端设置于高电子迁移率晶体管的氮化镓层，而探棒与高电子迁移率晶体管的P型氮化镓接触。
基本信息
专利标题 ：
量测组件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922096623.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-28
授权号 ：
CN212207471U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
钟瑞伦吴俊鹏
申请人 ：
吴俊鹏;陈纪宇
申请人地址 ：
中国台湾新竹市北区延平路一段261巷8弄18号
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
董科
优先权 ：
CN201922096623.4
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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