量测装置及量测方法
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摘要
一种量测装置，用于校正第一量测机的量测误差，量测装置包括通信器和处理器。通信器用于接收来自第一量测机检测工件形成的第一检测集，还用于接收来自第二量测机检测工件形成的第二检测集。第二量测机的精度高于所述第一量测机的精度，由此可通过第二量测机的量测值校正第一量测机的量测误差。处理器与通信器耦接，处理器用于获取来自通信器接收的第一检测集和第二检测集，并根据第一检测集和第二检测集形成校正值。通信器还用于将校正值反馈至所述第一量测机，以校正形成所述第一检测集时的误差。本发明同时提出一种量测方法。
基本信息
专利标题 ：
量测装置及量测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111805301A
申请号 ：
CN202010545961.6
公开（公告）日 ：
2020-10-23
申请日 ：
2020-06-16
授权号 ：
CN111805301B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
孙正一陈昶升杨勇曹伟涛谢松臻
申请人 ：
深圳市裕展精密科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市观澜富士康鸿观科技园B区厂房5栋C09栋4层、C07栋2层、C08栋3层4层、C04栋1层
代理机构 ：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈敬华
优先权 ：
CN202010545961.6
主分类号 ：
B23Q17/00
IPC分类号 ：
B23Q17/00
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B23
机床；其他类目中不包括的金属加工
B23Q
机床的零件、部件或附件，如仿形装置或控制装置；以特殊零件或部件的结构为特征的通用机床；不针对某一特殊金属加工用途的金属加工机床的组合或联合
B23Q17/00
机床上的指示或测量装置
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-11-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : B23Q 17/00
申请日 : 20200616
申请日 : 20200616
2020-10-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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