接触信号测头
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一个接触信号测头，接触探针基座由固定在测头外壳内的支座活动支撑，Z轴活动支撑机构将接触探针安装在接触探针基座上。Z轴支撑机构包括固定在探针基座上下端的膜片，与膜片中部紧固的一根支撑轴，探针固定在支撑轴下端。当接触探针接触工件的外表面时。探针基座和Z轴支撑机构能支撑接触探针相对于测头作三维自由运动。这套载置有一个电接触信号检测器，它包括许多能产生出电接触信号的磁心和检测线圈。
基本信息
专利标题 ：
接触信号测头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85107033A
申请号 ：
CN85107033.7
公开（公告）日 ：
1987-04-01
申请日 ：
1985-09-21
授权号 ：
CN1005168B
授权日 ：
1989-09-13
发明人 ：
福吉稔古头隆中村哲夫
申请人 ：
株式会社三丰制作所
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
李毅
优先权 ：
CN85107033.7
主分类号 ：
G01B7/28
IPC分类号 ：
G01B7/28 G01D5/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/28
用于计量轮廓或曲率
法律状态
1997-11-05 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-05-30 ：
授权
1989-09-13 ：
审定
1988-12-21 ：
实质审查请求
1987-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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