测试机的改良结构
专利权的终止
摘要

本实用新型一种测试机的改良结构,包含一具有顶、底板、柱体、活动板、致动组件、吊挂部及限位单元的机座;一与吊挂部结合的上模及一与上模对应的下模,该上、下模分别具有座体、探针导引板、探针及线针,而上、下模最外侧的探针导引板端面设有相对应的定位部与对位部;一设于底板上的移动单元;以及一设于移动单元上的动作单元。通过此,除了可使上、下模于测试时,利用吊挂部、定位部与对位部的配合产生自动对位的效果外,亦可于检测维修时,以限位单元、移动单元与动作单元的配合,达到自动检测及拆换的功能。

基本信息
专利标题 :
测试机的改良结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820130081.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-09-23
授权号 :
CN201266221Y
授权日 :
2009-07-01
发明人 :
吴美惠
申请人 :
吴美惠
申请人地址 :
台湾省高雄市
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
周国城
优先权 :
CN200820130081.7
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2011-12-07 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101147913701
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008201300817
申请日 : 20080923
授权公告日 : 20090701
终止日期 : 20100923
2009-07-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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