具扫描仪之基材检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型系一种具扫描仪之基材检测装置,其系包括一框架、设置于该框架上的一输送带和至少二扫描仪,以及一控制单元,该等扫描仪系固定于该框架且相对于该输送带之上、下表面,其具有一灯源以及一影像撷取单元,该控制单元系连接该扫描仪;由于扫描仪系呈一“线”的设置,所以当输送带运作而让基材通过该扫描仪时,该扫描仪可完整扫描基材表面,因此该扫描仪完全无须转动,使得扫描仪与输送带之间的距离能够缩短,而缩小框架的体积,并节省框架的制作成本;而且扫描仪的价格低,使得本实用新型之基材检测装置的成本能够更为降低。

基本信息
专利标题 :
具扫描仪之基材检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820135238.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-09-11
授权号 :
CN201298023Y
授权日 :
2009-08-26
发明人 :
李辉雄
申请人 :
捷将科技有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北市
代理机构 :
北京中北知识产权代理有限公司
代理人 :
吴 立
优先权 :
CN200820135238.5
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2012-11-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101346918680
IPC(主分类) : G01N 21/88
专利号 : ZL2008201352385
申请日 : 20080911
授权公告日 : 20090826
终止日期 : 20110911
2009-08-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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