一种PCB综合可靠性测试板
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种PCB综合可靠性测试板,包括:本体及设于本体上的综合测试图形,综合测试图形包括数个单元测试图形。所述数个单元测试图形为:剥离强度测试图形;热应力、可焊性能、拉脱强度测试图形;湿热绝缘电阻、耐CAF测试图形;耐电压测试图形;层间绝缘电阻测试图形;热冲击、冷热循环、热油浴测试图形;T260测试图形。本实用新型通过在同一生产型号的测试板本体上集成多种PCB单元测试图形,这些单元测试图形涵盖了对PCB板评价的主要可靠性类别,共同组成一综合测试图形,能够较好的对PCB综合可靠性进行评价,解决了PCB综合可靠性评价中的图形制作麻烦和测试中容易遗漏测试项目的问题,有效节约时间和成本。

基本信息
专利标题 :
一种PCB综合可靠性测试板
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820146444.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-08
授权号 :
CN201247235Y
授权日 :
2009-05-27
发明人 :
李文杰
申请人 :
东莞生益电子有限公司
申请人地址 :
523039广东省东莞市万江区莞穗大道413号
代理机构 :
深圳市德力知识产权代理事务所
代理人 :
林才桂
优先权 :
CN200820146444.6
主分类号 :
G01N33/00
IPC分类号 :
G01N33/00  G01N19/04  G01N3/60  G01R31/00  G01R31/12  B23K31/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2014-10-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101587300911
IPC(主分类) : G01N 33/00
专利号 : ZL2008201464446
申请日 : 20080808
授权公告日 : 20090527
终止日期 : 20130808
2009-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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