单晶炉测径仪底座

专利权的终止

摘要

一种单晶炉测径仪底座，解决了在生产车间中需配备多个与不同规格的单晶炉相匹配的测径仪，增加使用成本，同时使用也不方便，影响工作效率的问题。它有一个底座，在底座中部设有透光防护镜片，其特殊之处是：在底座底面由内至外设有二至三道环形卡沿。优点是：可用于不同规格的单晶炉的测径，采用一个测径仪即可对不同规格的单晶炉进行测径，降低使用成本；使用方便，可提高工作效率。

基本信息

专利标题：

单晶炉测径仪底座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820218591.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-10-20

授权号：

CN201241196Y

授权日：

2009-05-20

发明人：

张昱博

申请人：

锦州阳光能源有限公司

申请人地址：

121000辽宁省锦州市解放西路102号

代理机构：

锦州辽西专利事务所

代理人：

李辉

优先权：

CN200820218591.X

主分类号：

C30B15/26

IPC分类号：

C30B15/26 C30B35/00

IPC结构图谱

C部——化学；冶金

C30

晶体生长

C30B

单晶生长；共晶材料的定向凝固或共析材料的定向分层；材料的区熔精炼；具有一定结构的均匀多晶材料的制备；单晶或具有一定结构的均匀多晶材料；单晶或具有一定结构的均匀多晶材料之后处理；其所用的装置

C30B15/00

熔融液提拉法的单晶生长，例如Czochralski法

C30B15/20

控制或调节

C30B15/22

被拉晶体附近熔融区的稳定化或形状控制；晶体截面的控制

C30B15/26

使用电视摄像机的；使用光检测器或X射线检测器的

法律状态

2013-12-04 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101550530291
IPC(主分类) : C30B 15/26
专利号 : ZL200820218591X
申请日 : 20081020
授权公告日 : 20090520
终止日期 : 20121020

2009-05-20 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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