双滑道单晶炉测径仪
专利权的终止
摘要

一种双滑道单晶炉测径仪,解决了电子标尺滑动过程中不稳定,长时间使用后标尺变形,影响测量精度的问题。它有一个底座和带有镜头的电子标尺,其特殊之处是:在底座上设有滑道,在底座上位于滑道两侧设有垫块,所述的电子标尺通过连接架安装在垫块上,在电子标尺下表面设有滑块,所述的滑块位于滑道上。通过设在底座上的滑道和设在电子标尺下表面的滑块配合,使电子标尺由悬空状态变为直接坐在底座上并实现双滑道滑动,既便于操作,又增强了电子标尺的稳定性,防止标尺变形,从而提高测量精度。

基本信息
专利标题 :
双滑道单晶炉测径仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820218590.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-20
授权号 :
CN201241195Y
授权日 :
2009-05-20
发明人 :
陈立民
申请人 :
锦州阳光能源有限公司
申请人地址 :
121000辽宁省锦州市解放西路102号
代理机构 :
锦州辽西专利事务所
代理人 :
李 辉
优先权 :
CN200820218590.5
主分类号 :
C30B15/26
IPC分类号 :
C30B15/26  C30B35/00  
IPC结构图谱
C
C部——化学;冶金
C30
晶体生长
C30B
单晶生长;共晶材料的定向凝固或共析材料的定向分层;材料的区熔精炼;具有一定结构的均匀多晶材料的制备;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料之后处理;其所用的装置
C30B15/00
熔融液提拉法的单晶生长,例如Czochralski法
C30B15/20
控制或调节
C30B15/22
被拉晶体附近熔融区的稳定化或形状控制;晶体截面的控制
C30B15/26
使用电视摄像机的;使用光检测器或X射线检测器的
法律状态
2013-12-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101550531019
IPC(主分类) : C30B 15/26
专利号 : ZL2008202185905
申请日 : 20081020
授权公告日 : 20090520
终止日期 : 20121020
2009-05-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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