粒子感测装置、以及具有粒子感测装置的电子设备
授权
摘要

本发明提供一种粒子感测装置、以及具有粒子感测装置的电子设备。所述粒子感测装置利用来自光源的光束,来感测悬浮微粒。粒子感测装置包括:柱状阵列以及感光元件。柱状阵列位于光束的行进路径的下游侧。柱状阵列具有多个柱状物。相邻的两个柱状物之间具有空隙。感光元件对向于柱状阵列而设置、且位于光束的行进路径的下游侧;其中,光束的行进路径平行于每一柱状物的长度方向,且光束通过空隙而到达感光元件。本发明提供的粒子感测装置能够良好地对于悬浮微粒进行感测,且能够简单地被整合到各种电子设备中。

基本信息
专利标题 :
粒子感测装置、以及具有粒子感测装置的电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN107305178A
申请号 :
CN201610246629.3
公开(公告)日 :
2017-10-31
申请日 :
2016-04-20
授权号 :
CN107305178B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
何羽轩吴怡德
申请人 :
华邦电子股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台中市大雅区科雅一路8号
代理机构 :
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 :
马雯雯
优先权 :
CN201610246629.3
主分类号 :
G01N15/06
IPC分类号 :
G01N15/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2022-04-05 :
授权
2017-11-28 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/06
申请日 : 20160420
2017-10-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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