用于对对象进行X射线成像的装置
授权
摘要
本发明涉及一种用于对对象进行X射线成像的装置。它被描述为提供(20)与对X射线的探测相关的数据，其中，X射线探测器被配置为相对于X射线源被定位，使得所述X射线源与所述X射线探测器之间的区域的至少部分是用于容纳对象的检查区域。X射线干涉仪布置被配置为相对于所述检查区域被定位。确定透射通过所述对象的至少部分的X射线辐射的至少一个X射线暗场因数和至少一个透射因数。根据所确定的至少一个暗场因数和所确定的至少一个透射因数的函数来控制要朝向所述对象的所述至少部分发射的X射线辐射的强度。
基本信息
专利标题 ：
用于对对象进行X射线成像的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108289649A
申请号 ：
CN201680069968.7
公开（公告）日 ：
2018-07-17
申请日 ：
2016-11-21
授权号 ：
CN108289649B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
T·克勒H-I·马克T·普拉洛
申请人 ：
皇家飞利浦有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
李光颖
优先权 ：
CN201680069968.7
主分类号 ：
A61B6/00
IPC分类号 ：
A61B6/00
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2018-12-28 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 6/00
申请日 : 20161121
申请日 : 20161121
2018-07-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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