高效光子检测
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摘要

一种检测像素,其包括一种材料,该材料被选择使得其(平均)原子序数密度导致康普顿过程成为响应入射光子的主导散射机制,这导致生成具有足够数量和动能的康普顿电子以在所述材料中产生电或磁的响应。入射光子和康普顿电子在所述材料中各自具有特征行进距离,并且所述的检测像素具有至少一个尺寸,该尺寸是根据由这些特征行进距离限定的范围来选择。所述检测像素可以布置在用于成像的阵列中。

基本信息
专利标题 :
高效光子检测
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108700673A
申请号 :
CN201680081918.0
公开(公告)日 :
2018-10-23
申请日 :
2016-12-14
授权号 :
CN108700673B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
雷切尔·坎纳拉弗雷德·沙利菲亚历克斯·斯莫利亚尼茨基
申请人 :
埃尔瓦有限公司
申请人地址 :
美国华盛顿州
代理机构 :
上海胜康律师事务所
代理人 :
李献忠
优先权 :
CN201680081918.0
主分类号 :
G01T3/00
IPC分类号 :
G01T3/00  G01T1/36  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T3/00
中子辐射的测量
法律状态
2022-05-31 :
授权
2019-01-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 3/00
申请日 : 20161214
2018-10-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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