光子检测装置和方法
实质审查的生效
摘要
一种光子检测装置，包括：硅光电倍增管(SiPM)，用于在SiPM吸收光子时产生检测信号；放大器；以及位于SiPM和放大器输入端之间的传输线短截线。SiPM连接被配置为将检测信号传输到放大器，并且传输线短截线还被配置为接收SiPM信号并生成返回到放大器输入端的延时反射信号；其中放大器被配置为放大检测信号和延时反射信号的组合。传输线短截线的末端以复阻抗终止，该复阻抗可同时吸收SiPM脉冲响应的某些分量，并反射其他分量。
基本信息
专利标题 ：
光子检测装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441034A
申请号 ：
CN202111289022.0
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2021-11-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
B·拉德克
申请人 ：
统雷有限公司
申请人地址 ：
美国新泽西州
代理机构 ：
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
梁志文
优先权 ：
CN202111289022.0
主分类号 ：
G01J1/44
IPC分类号 ：
G01J1/44 G01J11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
G01J1/44
电路
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/44
申请日 : 20211102
申请日 : 20211102
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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