适用于单光子探测器的故障自检测方法及装置
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摘要

本发明公开了适用于单光子探测器的故障自检测方法及装置,包括皮秒脉冲光源、可调光衰减器、采样电路、电源拓扑保护电路以及上位机;皮秒脉冲光源产生光脉冲信号以及与光脉冲同源的电信号,电信号作为单光子探测器的触发信号,可调光衰减器对获取到的光脉冲信号处理后得到单光子光脉冲作为单光子探测器的测试信号;电源拓扑保护电路用于实现单光子探测器中电源模块的持续可靠性工序检测,采样电路采集单光子探测器待检测部位采样值;上位机用于设置测试工序指令、读取测试数据、分析数据以及生成测试报告。方案通过自动化的测试工序对单光子探测器的多个电路结构和元器件进行检测,显著提高其故障检测效率和定位准度。

基本信息
专利标题 :
适用于单光子探测器的故障自检测方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114062831A
申请号 :
CN202210046828.5
公开(公告)日 :
2022-02-18
申请日 :
2022-01-17
授权号 :
CN114062831B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
杜响剑张波罗俊陈向阳金寅生卢旭倩夏宁吕齐杨怀仁马睿唐世彪张万生
申请人 :
国网浙江省电力有限公司金华供电公司;国网浙江省电力有限公司东阳市供电公司;东阳市光明电力建设有限公司;浙江国盾量子电力科技有限公司;科大国盾量子技术股份有限公司
申请人地址 :
浙江省金华市双溪西路420号
代理机构 :
杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李磊
优先权 :
CN202210046828.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R31/26  G01R19/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-04-19 :
授权
2022-03-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20220117
2022-02-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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