一种微波单光子探测器
授权
摘要
本实用新型提供一种微波单光子探测器包括：微波信号源、微波泵浦源、电‑光‑力转换器、超低温制冷机、光泵浦源、光频单光子探测器、数据分析终端和电源，本实用新型依靠电‑光‑力转换器产生的微波光子‑机械声子‑光波光子强耦合，将微波光子有效地转换成光波光子，并使用成熟高效的光频单光子探测器进行探测，借助强耦合支配下的微波光子‑光波光子间的一一对应关系，实现对于微波单光子的准确有效的探测，从而为在微波频段实现对量子现象的观测及量子非经典特性的应用提供了新的选择。
基本信息
专利标题 ：
一种微波单光子探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922205385.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-11
授权号 ：
CN211013263U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
罗均文吴德伟苗强魏天丽何思璇
申请人 ：
中国人民解放军空军工程大学
申请人地址 ：
陕西省西安市莲湖区沣镐东路1号空军工程大学
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤东凤
优先权 ：
CN201922205385.6
主分类号 ：
G01J11/00
IPC分类号 ：
G01J11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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