高集成度纯数控单光子探测器
专利权的终止
摘要
本发明公开了一种高集成度纯数控单光子探测器,其特征在于:由APD雪崩信号处理系统、偏置电压单元、鉴别电压单元、内触发信号单元、制冷部分和数字控制部分组成,制冷部分与APD雪崩信号处理系统相连接,数字控制部分分别与APD雪崩信号处理系统、偏置电压单元、鉴别电压单元、内触发信号单元相连接。由于单光子探测器的各部件通过数字控制部分连为一体,因此各部分可由数字控制部分集中控制,系统集成度高,大大提高了实验效率,智能程度高,也更便于操作,同时降低了实验人员的工作量。
基本信息
专利标题 :
高集成度纯数控单光子探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1760652A
申请号 :
CN200510123855.4
公开(公告)日 :
2006-04-19
申请日 :
2005-11-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孙志斌杨捍东马海强翟光杰吴令安
申请人 :
中国科学院物理研究所
申请人地址 :
100080北京市海淀区中关村南三街8号
代理机构 :
北京中创阳光知识产权代理有限责任公司
代理人 :
尹振启
优先权 :
CN200510123855.4
主分类号 :
G01J11/00
IPC分类号 :
G01J11/00 G01T1/17 G01T1/24 H01L31/02 H04B10/08 H04K1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2013-01-23 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101384117704
IPC(主分类) : G01J 11/00
专利号 : ZL2005101238554
申请日 : 20051123
授权公告日 : 20081112
终止日期 : 20111123
号牌文件序号 : 101384117704
IPC(主分类) : G01J 11/00
专利号 : ZL2005101238554
申请日 : 20051123
授权公告日 : 20081112
终止日期 : 20111123
2008-11-12 :
授权
2006-06-07 :
实质审查的生效
2006-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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